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簡要描述：掃描電子顯微鏡SEM4借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運(yùn)用 91 條并行電子束的采集速度?，F(xiàn)如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡(SEM)專為 7 x 24 小時的連續(xù)、可靠運(yùn)行而設(shè)計(jì)。只需簡單設(shè)置高性能數(shù)據(jù)采集流程，MultiSEM 便能夠獨(dú)立地自動完成高襯度圖像采集。

簡要描述：掃描電子顯微鏡SEM3的FIB-SEM結(jié)合了場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)出色的成像和分析性能，和新一代聚焦離子束(FIB)優(yōu)異的加工性能。無論是在科研或是工業(yè)實(shí)驗(yàn)室，您都可以在一臺設(shè)備上實(shí)現(xiàn)多用戶同時操作。得益于蔡司Crossbeam系列模塊化的平臺設(shè)計(jì)理念，您可以根據(jù)自己需求的變化隨時升級儀器系統(tǒng)。在加工、成像或是實(shí)現(xiàn)三維重構(gòu)分析時，Crosssbeam系列都將

簡要描述：掃描電子顯微鏡SEM2 是學(xué)術(shù)和研究機(jī)構(gòu)使用的一款分析型掃描電子顯微鏡。EVO 18 Research 為您提供優(yōu)異的成像品質(zhì)，具有處理多種材料的能力。結(jié)合SmartSEM 軟件的易用性，使其成為多種研究應(yīng)用的合適之選，范圍涵蓋半導(dǎo)體和電子技術(shù)、地質(zhì)科學(xué)及材料研究。

簡要描述：掃描電子顯微鏡SEM標(biāo)配能譜儀和波譜儀(EDS WDC)接口，另有用于高級形貌與化學(xué)分析的全集成式顆粒分析和識別解決方案可供選擇。通過升級LaB6高亮度光源將與X射線分析相關(guān)的探針電流性能提升至一個全新的水準(zhǔn)。

簡要描述：工業(yè)顯微鏡Axiolab 5易于操作且符合人體工程學(xué)的設(shè)計(jì)理念，新型進(jìn)口蔡司工業(yè)電子顯微鏡成為實(shí)驗(yàn)室日常工作的好幫手。只需單手便可操作所有的主要控件，包括拍照按鈕、載物臺移動手柄、調(diào)焦旋鈕和亮度調(diào)節(jié)。

簡要描述：關(guān)聯(lián)工業(yè)掃描電子顯微鏡技術(shù)為您提供了集成化的解決方案和無縫銜接的工作流程。選擇蔡司作為光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡、離子束顯微鏡和X射線顯微鏡的供應(yīng)商，并從多年的關(guān)聯(lián)分析經(jīng)驗(yàn)中受益。選擇以樣品為中心的圖像和數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)技術(shù)，使您的研究工作超越單一顯微鏡能夠達(dá)到的技術(shù)界限。

簡要描述：ZEISS掃描電子顯微鏡EVO將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗(yàn)結(jié)合在一起， 同時能夠吸引經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學(xué)， 材料科學(xué)， 或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域，憑借廣泛的可選配置， EVO 都可以根據(jù)您的要求量身定制。顯微鏡中心或工業(yè)質(zhì)量保證實(shí)驗(yàn)室的多功能解決方案。

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